Шлейф L4 для теста матриц 30pin LVDS High Resolution CCFL

Характеристики

Страна производства
Бренд
Описание
Подходит для тестирования матриц с разъемом 30pin и высоким разрешением 1440x900 1920x1200 1920x1080 (WXGA+, WSXGA+ UWXGA, FHD)
Краткое наименование
Шлейф L3 для матриц 30pin LVDS High Res CCFL

Похожие товары

Добавить комментарий

Ваше имя
Ваш e-mail
Текст комментария